全譜波長掃描儀性能特點(diǎn):

創(chuàng)新的測角儀設(shè)計
保護(hù)的創(chuàng)新型鋼帶傳動系統(tǒng)，可以提供穩(wěn)定、無回程間隙的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動，以保證精度的角度定位要求；
θ/2θ兩軸獨(dú)立運(yùn)動，并配合伺服電機(jī)和圓光柵構(gòu)成閉環(huán)系統(tǒng)；
永磁式交流伺服電機(jī)提供業(yè)界的高速平滑運(yùn)動；
圓光柵測角重復(fù)性可達(dá)±0.0002度，精度達(dá)±0.0006度，足以保證優(yōu)異的角度測量性能；

數(shù)字多道分析儀
12位，80M/s的模數(shù)轉(zhuǎn)換采樣率，是業(yè)界分辨率的信號采樣系統(tǒng)，保證了信號采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的數(shù)字信號處理算法，4096道分析系統(tǒng)足以從噪聲中篩選正確的X射線信號
大動態(tài)范圍測量，有效減少了探測器增益調(diào)節(jié)次數(shù)

X射線光管和高壓
標(biāo)準(zhǔn)的4kW大功率電源系統(tǒng)，支持高靈敏度的痕量檢測以及更快的檢驗速度
50um/75um的鈹窗厚度保證超高的X射線穿透率，尤其適合低能X射線穿過
高壓電源電壓和電流可達(dá)60kV和160mA，用戶可根據(jù)實際需要靈活設(shè)置電壓和電流參數(shù)
雙通道水冷系統(tǒng)，電導(dǎo)率保持在1uS以下，以限度延長光管工作壽命其他
多可支持10塊晶體，可根據(jù)客戶需求提供專門優(yōu)化的人工多層膜晶體，以提升輕元素的檢測能力
薄可達(dá)0.3um的正比流氣計數(shù)器窗膜，極大提升了輕元素的光通量

其他：
光譜室溫度控制穩(wěn)定性在±0.05C以內(nèi)
晶體、準(zhǔn)直器和濾光片都采用自動切換控制
軟件
完整而豐富的軟件功能
32位軟件系統(tǒng)，優(yōu)異的可操作性和人機(jī)交互界面
成熟的經(jīng)驗系數(shù)法配合標(biāo)準(zhǔn)樣品提供準(zhǔn)確可靠的檢測數(shù)據(jù)
基本參數(shù)法可提供多樣化的分析手段，可進(jìn)行無標(biāo)樣的半定量和定量分析
集成的SQLite數(shù)據(jù)庫用于保存實驗數(shù)據(jù)，方便數(shù)據(jù)查詢和管理

全譜波長掃描儀技術(shù)指標(biāo)

進(jìn)樣系統(tǒng)
樣品形式：固體
樣品尺寸：51.5 mm  × 40 mm
樣品重量：重500g
進(jìn)樣系統(tǒng)：雙進(jìn)樣系統(tǒng)，標(biāo)備除塵過濾器和預(yù)抽真空系統(tǒng)；一個樣品測量的同時給另一個樣品預(yù)抽真空，互不干擾
自動進(jìn)樣機(jī)：自動機(jī)械手進(jìn)樣系統(tǒng)，多可裝168個樣品
自旋裝置：3種自旋速度(低、中、高)
X射線光管
鈹窗：50um/75um超薄鈹窗，用以保證X射線的高通過率
陽極靶材料：標(biāo)配銠靶，可選銅靶、鉬靶、鎢靶，鉻靶，鉑靶等
工作模式：樣品進(jìn)樣時保持工作狀態(tài)不變
水冷系統(tǒng)：雙路水循環(huán)系統(tǒng)，電導(dǎo)率保持在1uS以下
高壓電源
輸出方式：1kV和1mA的標(biāo)準(zhǔn)調(diào)節(jié)單位，通過12位DA進(jìn)行精細(xì)調(diào)節(jié)
長時間穩(wěn)定性：0.01%/8 hours
溫度穩(wěn)定性：50 ppm/C
(20 ppm/C可選).
數(shù)據(jù)
功率：4kW
KV/mA范圍：電壓20-60KV，電流10-140mA；電壓75kV，電流160mA可選.
測角儀
工作模式：創(chuàng)新型鋼帶傳動系統(tǒng)，無摩擦，無回程間隙，帶有圓光柵反饋，θ/2θ兩軸獨(dú)立運(yùn)動
轉(zhuǎn)角速度：6000  2θ/min
測角精度：0.006° θ / 2θ
測角重復(fù)性：0.0002° θ / 2θ
步進(jìn)角度：小 0.0001°，1°
角度掃描范圍：流氣比例計數(shù)器:12° to 150°@2θ
閃爍計數(shù)器: 0° to 120°@2θ
光路
準(zhǔn)直器面罩：單面罩，(其他尺寸27， 32 or 50mm可選)
主準(zhǔn)直器：多可裝3個: 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um， 可選
主濾光片：多4片: Pb，Al，Cu等元素可選
晶體：多10個: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于輕元素測量的各種人工多層膜晶體.
探測器：流氣比例計數(shù)器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜
閃爍計數(shù)器 (SC)
光室真空度：<15Pa
信號處理
數(shù)字多道分析儀：12位，80M/s采樣速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信號和噪聲分離
計數(shù)率：流氣比例計數(shù)器:2Mcps
閃爍計數(shù)器: 1.5Mcps
脈沖漂移和增益校正：自動
時間校正：自動