金屬合金成分檢測儀_分析儀器特點

X射線熒光光譜儀的特征是波長非常短，頻率很高，其波長約為（20～0.06）×10-8厘米之間。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線光譜是原子中zui靠內(nèi)層的電子躍遷時發(fā)出來的，而光學光譜則是外層的電子躍遷時發(fā)射出來的。X射線在電場磁場中不偏轉。這說明X射線是不帶電的粒子流，因此能產(chǎn)生干涉、衍射現(xiàn)象。 

X射線熒光光譜儀的X射線譜由連續(xù)譜和標識譜兩部分組成 ，標識譜重疊在連續(xù)譜背景上，連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射，其短波極限λ 0 由加速電壓V決定：λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù)，e為電子電量，c為真空中的光速。標識譜是由一系列線狀譜組成，它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生，每種元素各有一套特定的標識譜，反映了原子殼層結構 。同步輻射源可產(chǎn)生高強度的連續(xù)譜X射線，現(xiàn)已成為重要的X射線源。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測合金元素成分檢測儀,專門研發(fā)測試合金成分分析.測試過程校準，保證測量精度，內(nèi)置多條曲線，可滿足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行成分分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

產(chǎn)品型號：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

金屬合金成分檢測儀_分析儀器應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）